作品・発表
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2007/07
学会発表（国内学会）
Hot-Carrier Degradation under Current Saturation Stress in Low-Temperature n-Channel LDD Poly-Si TFTs
The 14th International Workshop on Active-Matrix Flatpanel Displays and Devices
S. Hirata、 M. Yamagata、 T. Satoh、 H. Tango
淡路島
2007
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