学術論文
題名
概要
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種別
共著者名
発行又は発表の年月
発行所
巻・号
掲載ページ
DOI*/ISBN*
年度
備考
基本情報
氏名
佐藤利文
氏名(カナ)
サトウ トシフミ
氏名(英語)
SATOH Toshifumi
題名
Hot-Carrier-Induced Degradation under Current Saturation Bias in p-Channel Low-Temperature Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors
概要
 
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種別
学術論文
共著者名
M. Yamagata_ T. Satoh_ and H. Tango
発行又は発表の年月
2007/08
発行所
JJAP
巻・号
Vol. 46_ No. 8A
掲載ページ
pp. 5044?5049
DOI*/ISBN*
 
年度
2007
備考