学術論文

基本情報

氏名 佐藤利文
氏名(カナ) サトウ トシフミ
氏名(英語) SATOH Toshifumi

題名

Hot-carrier-induced degradation of threshold voltage in p-channel low- temperaturepoly-Si TFTs

概要

 

種別

学術論文

共著者名

M. Suganuma_ T. Satoh and H. Tango_

発行又は発表の年月

2003/12

発行所

ELECTRONICS LETTERS_

巻・号

Vol.39_ No.25_

掲載ページ

pp.1863-1865_

DOI*/ISBN*

 

年度

2003

備考