学術論文

基本情報

氏名 佐藤利文
氏名(カナ) サトウ トシフミ
氏名(英語) SATOH Toshifumi

題名

Hot-carrier-induced degradation of threshold voltage and transconductance in n-channel LDDand SD poly-Si TFTs

概要

 

種別

学術論文

共著者名

H.Tango_ T.Satoh and Y.Imai_

発行又は発表の年月

2002/09

発行所

ELECTRONICS LETTERS

巻・号

Vol.38_ No.20_

掲載ページ

pp.1227-1228_

DOI*/ISBN*

 

年度

2002

備考