学術論文
題名
概要
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種別
共著者名
発行又は発表の年月
発行所
巻・号
掲載ページ
DOI*/ISBN*
年度
備考
基本情報
氏名
佐藤利文
氏名(カナ)
サトウ トシフミ
氏名(英語)
SATOH Toshifumi
題名
Hot-carrier-induced degradation of threshold voltage and transconductance in n-channel LDDand SD poly-Si TFTs
概要
 
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種別
学術論文
共著者名
H.Tango_ T.Satoh and Y.Imai_
発行又は発表の年月
2002/09
発行所
ELECTRONICS LETTERS
巻・号
Vol.38_ No.20_
掲載ページ
pp.1227-1228_
DOI*/ISBN*
 
年度
2002
備考