学術論文
題名
概要
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種別
共著者名
発行又は発表の年月
発行所
巻・号
掲載ページ
DOI*/ISBN*
年度
備考
基本情報
氏名
佐藤利文
氏名(カナ)
サトウ トシフミ
氏名(英語)
SATOH Toshifumi
題名
Hot-Carrier Degradation and Electric Field and Electron Concentration near Drain Junction in Low-Temparature N-Channel SD and LDD Poly-Si TFTs
概要
 
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種別
学術論文
共著者名
G.Usami_ Y.Nogami_ T.Yajima_ M.Yamagata_ T.Satoh_ H.Tango
発行又は発表の年月
2007/03
発行所
JJAP
巻・号
Vol.46_ No.3B
掲載ページ
pp. 1322-1327
DOI*/ISBN*
 
年度
2006
備考