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SATOH Toshifumi
Start Date
2003-03
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Matter
ホットキャリア効果によるn-チャネル低温poly-Si TFTの弱飽和領域ストレスによる素子特性劣化
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第50回応用物理学関係連合講演会，28p-ZT-11，
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宇佐美弦、佐藤利文、丹呉浩侑
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2002
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